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技術(shù)常識(shí)
無(wú)損探傷檢測(cè)須知
來(lái)源:時(shí)代集團(tuán) 發(fā)布日期:2013-01-30 15:13:52
1、什么是無(wú)損探傷/無(wú)損檢測(cè)?
答:(1)無(wú)損探傷是在不損壞工件或原材料工作狀態(tài)的前提下,對(duì)被檢驗(yàn)部件的表面和內(nèi)部質(zhì)量進(jìn)行檢查的一種測(cè)試手段。
(2)無(wú)損檢測(cè):Nondestructive Testing(縮寫 NDT)
2、常用的探傷方法有哪些?
答:無(wú)損檢測(cè)方法很多據(jù)美國(guó)國(guó)家宇航局調(diào)研分析,認(rèn)為可分為六大類約70余種。但在實(shí)際應(yīng)用中比較常見的有以下幾種:
常規(guī)無(wú)損檢測(cè)方法有:
-超聲檢測(cè) Ultrasonic Testing(縮寫 UT);
-射線檢測(cè) Radiographic Testing(縮寫 RT);
-磁粉檢測(cè) Magnetic particle Testing(縮寫 MT);
-滲透檢驗(yàn) Penetrant Testing (縮寫 PT);
-渦流檢測(cè)Eddy current Testing(縮寫 ET);
答:無(wú)損檢測(cè)方法很多據(jù)美國(guó)國(guó)家宇航局調(diào)研分析,認(rèn)為可分為六大類約70余種。但在實(shí)際應(yīng)用中比較常見的有以下幾種:
常規(guī)無(wú)損檢測(cè)方法有:
-超聲檢測(cè) Ultrasonic Testing(縮寫 UT);
-射線檢測(cè) Radiographic Testing(縮寫 RT);
-磁粉檢測(cè) Magnetic particle Testing(縮寫 MT);
-滲透檢驗(yàn) Penetrant Testing (縮寫 PT);
-渦流檢測(cè)Eddy current Testing(縮寫 ET);
非常規(guī)無(wú)損檢測(cè)技術(shù)有:
-聲發(fā)射Acoustic Emission(縮寫 AE);
-泄漏檢測(cè)Leak Testing(縮寫 UT);
-光全息照相Optical Holography;
-紅外熱成象Infrared Thermography;
-微波檢測(cè) Microwave Testing
-聲發(fā)射Acoustic Emission(縮寫 AE);
-泄漏檢測(cè)Leak Testing(縮寫 UT);
-光全息照相Optical Holography;
-紅外熱成象Infrared Thermography;
-微波檢測(cè) Microwave Testing
3、超聲波探傷的基本原理是什么?
答: 超聲波探傷儀的種類多樣,但在實(shí)際的探傷過(guò)程,脈沖反射式超聲波探傷儀應(yīng)用的最為廣泛。一般在均勻的材料中,缺陷的存在將造成材料的不連續(xù),這種不連續(xù)往往又造成聲阻抗的不一致,由反射定理我們知道,超聲波在兩種不同聲阻抗的介質(zhì)的交界面上將會(huì)發(fā)生反射,反射回來(lái)的能量的大小與交界面兩邊介質(zhì)聲阻抗的差異和交界面的取向、大小有關(guān)。脈沖反射式超聲波探傷儀就是根據(jù)這個(gè)原理設(shè)計(jì)的。
目前便攜式的脈沖反射式超聲波探傷儀大部分是A掃描方式的,所謂A掃描顯示方式即顯示器的橫坐標(biāo)是超聲波在被檢測(cè)材料中的傳播時(shí)間或者傳播距離,縱坐標(biāo)是超聲波反射波的幅值。譬如,在一個(gè)鋼工件中存在一個(gè)缺陷,由于這個(gè)缺陷的存在,造成了缺陷和鋼材料之間形成了一個(gè)不同介質(zhì)之間的交界面,交界面之間的聲阻抗不同,當(dāng)發(fā)射的超聲波遇到這個(gè)界面之后,就會(huì)發(fā)生反射。反射回來(lái)的能量又被探頭接受到,在顯示屏幕中橫坐標(biāo)的一定的位置就會(huì)顯示出來(lái)一個(gè)反射波的波形,橫坐標(biāo)的這個(gè)位置就是缺陷在被檢測(cè)材料中的深度。這個(gè)反射波的高度和形狀因不同的缺陷而不同,反映了缺陷的性質(zhì)。
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